外観検査の評価では、不良をOKにする見逃しと、良品をNGにする過検出を分けて数えます。両方とも誤判定ですが、前者は不良を通すリスク、後者は再検査や良品の滞留につながります。全体の正解率だけでは、どちらがどれだけ起きたか分かりません。良品が多い評価群では、正解率が高くても不良を十分に検出していない場合があります。[1]
ここでは不良を陽性、良品を陰性とし、装置のNGを陽性判定、OKを陰性判定とします。不良をNGにした件数がTP、不良をOKにした見逃しがFNです。良品をNGにした過検出がFP、良品をOKにした件数がTNです。この四分類で正解と装置判定を整理する方法を混同行列と呼びます。FNは偽陰性、FPは偽陽性とも呼ばれます。[2]
集計前に、製品・画像・検査領域のどれを1件と数えるか決め、各件に正解と装置判定を付けます。同じ製品を複数方向から撮る場合は、画像ごとの結果を製品1個の合否へまとめる規則も揃えます。欠陥数だけの集計ではTNとなる対象が定まらないため、そのまま良品の過検出率は出せません。
欠陥単位の見逃しと製品単位の過検出を併記するなら、別の集計と明記してください。